Da li su vam standardi potrebni u vasem poslu?
Da
Ne
Ponekad
Ne znam
Ukupan broj glasova: 2630

Prijavite se!
 


dnaSRPS EN 62979:2019

Faza: 50.20 - Почетак поступка одобравања дефинитивног текста нацрта српског стандарда
Početak: 2017-12-20
Kraj: 2018-02-20

Veza sa međunarodnim standardima
Ovaj standard je identičan sa: EN 62979:2017 CLC/TC 82

Naslov na srpskom jeziku

Fotonaponski moduli- Bajpas dioda - Termička ispitivanja

Naslov na engleskom jeziku

Photovoltaic module - Bypass diode - Thermal runaway test

Apstrakt na srpskom jeziku

EC 62979: 2017 (E) obezbeđuje postupak za procenu da li je povratna dioda, montirana u modulu, podložna promeni svojih parametara, kao rezultat temperature. Ova metodologija ispitivanja je posebno pogodna za ispitivanje Schottki diode, koje imaju svojstvo povećanja struje curenja kao funkciju obrnutog napona na višim temperaturama, što ih čini podložnijim odstupanjima parametara zbog toplote.

Apstrakt na engleskom jeziku

IEC 62979:2017(E) provides a method for evaluating whether a bypass diode as mounted in the module is susceptible to thermal runaway or if there is sufficient cooling for it to survive the transition from forward bias operation to reverse bias operation without overheating. This test methodology is particularly suited for testing of Schottky barrier diodes, which have the characteristic of increasing leakage current as a function of reverse bias voltage at high temperature, making them more susceptible to thermal runaway.

Komisija za standarde


ICS



Direktive

Nema informacija.